| ||||||||||||||||||||||
|
Главная страница » Энциклопедия строителя содержание: [стр.Введение] [стр.1] страница - 0 Ближний порядок и фазовые переходы в PbZr1.xTixO3 Дутова Е.В., Кофанова Н.Б., Рудская А.Г. (kupri@phys.rsu.ru) Ростовский госуниверситет, Ростов-на-Дону В составах системы PbZr1-xTixO3 в окрестности x=0.875 обнаружен ближний порядок в расположении циркония и титана в 5-подрешетке перовскитовой структуры, который проявляется в размытии сегнетоэлектрических фазовых переходов. Работа выполнена при финансовой поддержке Российского Фонда Фундаментальных Исследований (проект № 04-03-32039). Особенности фазовых состояний и морфотропных фазовых переходов сегнетоэлектрических твердых растворов на основе PbZr1-xTixO3 (ЦТС) определили их большую практическую значимость благодаря высоким значениям различных электрофизических параметров: пьезоэлектрических и пироэлектрических коэффициентов [1, 2]. В [3-5] показано, что в составах системы твердых растворов PbZr1-xTixO3 в окрестности x=0.125 наблюдаются эффекты ближнего порядка в размещении атомов Ti и Zr при их соотношении 1:7, которые обусловливают особенности ряда физических параметров. С целью обнаружения аналогичного ближнего порядка и его влияния на диэлектрические параметры в настоящей работе проведены исследования составов системы ЦТС (PbZr1-xTixO3) в окрестности x=0.875, то есть при соотношении концентраций Ti и Zr 7:1. Составы PbZr1-xTixO3 с x=0.925; 0.900; 0.875 приготовлены методом твердофазного синтеза из стехиометрических смесей оксидов PbO, ZrO2 и TiO2 обжигом при 750°C в течение 4 часов. Керамика получена спеканием в воздушной атмосфере при 1060°C в течение 1 часа. Измерения температурных зависимостей диэлектрических проницаемостей выполнены на приборе Е8-2 (1 кГц). Рентгеноструктурные исследования фазовых переходов проведены на дифрактометре ДРОН-3.0 (СиКа-излучение, Ni-фильтр) с регистрацией дифракционной картины по методу Брегга-Брентано (9-29) в областях рефлексов типа {200}, {220}, {222}. Параметры ячеек определены с точностью ±0.0005 А. Согласно [6] для бинарной системы типа B[_XB"X концентрационная зависимость параметров ячеек позволяет определять параметры ближнего порядка. Для изучаемых составов ЦТС в качестве экспериментальных данных мы использовали значения параметров ячеек в параэлектрической кубической фазе при одинаковой температуре 7=500°С. Было найдено, что в составах с x=0.875 параметр ближнего порядка, характеризующий степень заселенности позиций типа B атомами Ti в первой координационной сфере атомов Zr равен - 8.79, что, действительно, соответствует образованию микрообластей с упорядочением Zr и Ti. По температурным зависимостям параметров ячеек изучаемых составов установлено следующее. В окрестностях фазовых переходов данных составов параметры решетки изменяются по-разному. Если в составах с х=0.900 и х=0.925 объемы ячеек (или средний параметр решетки, < а > = \1 Уяч , где Уяч — объем ячейки) в тетрагональной фазе изменяются также, как и в PbTiO3, то для состава с х=0.875 имеет место следующая особенность — ниже температуры фазового перехода объем ячейки с понижением температуры увеличивается (как в PbTiO3), а при более низких температурах (Т<380°С) — уменьшается. Можно предположить, что такие изменения обусловлены сменой механизмов фазовых переходов в данной системе твердых растворов ЦТС в окрестности х=0.875. Характеристики составов PbZr1-xTixO3 (х=0.875; 0.900; 0.925).
На рис. 2 представлены температурные зависимости диэлектрической проницаемости 8 для изученных составов. Можно видеть, что наблюдаемые фазовые переходы являются размытыми [8]. Степени размытия этих переходов максимальны в составе с х=0.925. Это свидетельствует о наличии достаточно сильно отличающихся по размерам областей ближнего порядка, которые имеют, соответственно, разные Тс. По температурным зависимостям параметров ячеек составов с х=0.925; 0.900; 0.875 построены зависимости параметров деформации ячеек, 8=2/з(сТ/аТ-1) от T (рис. 1) и определены критические величины спонтанных деформаций Scr. По Scr можно сделать оценки величин минимальных значений спонтанной поляризации, возникающей при фазовых переходах в сегнетоэлектрическую тетрагональную фазу [7] по: Scr=k(APs) cr. При этом коэффициент k, зависящий от соотношения электрострикционных констант Qj, предполагается постоянным и равным 74 2 0.8-10 см /Кл . По температурным зависимостям параметров ячеек в кубических параэлектрических фазах определены коэффициенты линейного расширения (а). Полученные данные представлены в таблице. Таблица. содержание: [стр.Введение] [стр.1] |
|||||||||||||||||||||
© ЗАО "ЛэндМэн" |