Как обустроить мансарду?



Как создать искусственный водоем?



Как наладить теплоизоляцию?



Как сделать стяжку пола?



Как выбрать теплый пол?



Зачем нужны фасадные системы?



Что может получиться из балкона?


Главная страница » Энциклопедия строителя

содержание:
[стр.Введение] [стр.1] [стр.2]

страница - 1

диаметром 6 мм и высотой 6 мм. На рабочей поверхности каждого образца был нанесен материал электрода методом электроакустического напыления. В качестве эталона был взят образец без напыления из материала электродов.

Профили дифракционных отражений для эталона (а) и для рабочих образцов (б - е) при напылении электродом из стали 45, приведены на рисунке 1.

110220

width=604

20, град20, град

Рисунок 2 - Профили дифракционных отражений: а) крупнокристаллического эталона; б) напыленного образца (U=17 В, А = 5 мкм); в) U= 13 В, А = 15 мкм; г) U= 13 В, А = 10 мкм; д) U=13 В, А = 5 мкм; е) U=9 В, А = 15 мкм.

Во всех случаях варьировались электрическое напряжение, подводимое к электродам (u) и амплитуда (a) ультразвуковых колебаний.


Процентное содержание аморфной фазы оценивалось по отношению интенсивностей пиков образца и эталона (без учета текстурной компоненты). По экспериментальным данным было установлено, что исследуемые образцы представляют собой a- Fe. Величина физического уширения линий дифрактограммы, обусловленная дисперсностью блоков частиц была найдена методом Шеррера-Вилсона [7]. Расчетные значения физического уширения в, межплоскостного расстояния d, параметра решетки а и размер ОКР для рефлексов <110> и <220> представлены в таблице 1.

Таблица 1 - Расчетные параметры кристаллической структуры и данные дифрактограмм

Параметр/ образец

Рефлекс

<110>

<220>

б в г д е Эт.

б

В г д е Эт.

в-Ю"3, рад.

2.00

9

0

00

8

со

6 8.

3

со

8.

8.

6

00

8.

О

5 8.

29, град.

56.915

56.85

56.925

56.875

56.975

5

144.65

144.6

144.775

144.925

144.525

144.3

d, А

2.025

2.027

2.024

2.026

2.023

2.018

1.012

1.0128

1.0125

1.0121

1.0131

1.0128

а, А

2.8552

2.8580

2.8538

2.8566

2.8524

2.8464

2.8538

2.8560

2.8552

2.8792

2.8569

2.8569

D, нм

о

9

0

СП

2

сч

3

сч

СП VO

Объемное содержание аморфной фазы, %

5

5

о 1/~>

00

1/~>

о

00

On

00

Как видно из таблицы 1, наблюдается заметное уширение дифракционных пиков. Данное уширение вызвано, по нашему мнению, в гораздо большей степени дисперсность кристаллитов, чем возникающими в поверхностном слое микронапряжениями. Такой вывод основан на предварительной оценке,


width=591

Рисунок 3 - Зависимость параметра решетки a от величины физического уширения в при варьировании технологических режимов

Как видно, зависимости на рис 3. нельзя считать однозначными, т.е. делать вывод о росте или уменьшении a при изменении технологических параметров, однако с увеличением физического уширения величина a однозначно возрастает. Аналогичное явление наблюдается для оксидов, т.е. при увеличении физического уширения дифракционных пиков, вызванного уменьшением размеров кристаллитов, наблюдается увеличение параметров решетки [8].

Неоднозначное изменение величины a в зависимости от технологических параметров является характерным для нанокристаллических металлов вообще [1] и зависит от метода их получения. Зависимости параметров микроструктуры от технологических параметров представлены на рис. 4.

Выше приведенные факты являются прямым свидетельством наличия в напыленном слое наноразмерного эффекта [1], что подтверждается расчетным размером ОКР. Также легко видеть, что величины размеров ОКР для рефлексов 110 и 220 заметно расходятся, как и процентное содержание аморфной фазы, что

проведенной по методу Уоррена-Авербаха [7] с разделением вкладов от обоих факторов. Кроме того, происходит небольшое (на сотые доли градуса) смещение положения центра тяжести пиков на дифрактограммах и увеличение параметра решетки a в диапазоне 1.14 - 1.16 %. Зависимость величины физического уширения от величины параметра решетки при варьировании напряжения, подводимого к электроду, и амплитуды ультразвуковых колебаний приведена на рис.3.




содержание:
[стр.Введение] [стр.1] [стр.2]

© ЗАО "ЛэндМэн"