Таблица Значения параметров дифракционных линий для разных материалов

Заключение

Использование методов математического моделирования при обработке результатов рентгеноструктурных исследований позволяет значительно уменьшить влияния условий испытаний на параметры дифракционных линий. Несмотря на то, что в работе рассматривались только немонохроматичность характеристического излучения и геометрические условия получения дифрактограммы, сам подход позволяет учесть и другие факторы.

Численное моделирование процесса получения дифракционной линии на рентгеновском дифрактометре со схемой фокусировки по Бреггу-Брентанно показало, что ширина дифракционной линии зависит от угла отражения, числа плоскостей отражения, ширины эффективного фокуса рентгеновской трубки, расстояния от фокуса трубки до образца и первой щели, ширины щелей, угла разориентации областей когерентного рассеяния.

На основе моделирования процесса получения дифракционной линии предложен численный метод определения размеров ОКР и микроискажений кристаллической решетки по одной линии.

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

1.Хейкер Д. М., Зевин Л. С. Рентгеновская дифрактометрия. М.: Физматгиз, 1963, 357 с.

2.Русаков А. А. Рентгенография металлов. М.: Атомиздат, 1977, 480 с.

3.Горелик С.С., Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н. Рентгенографический и электронно-оптический анализ. М.: Москвоский ин-т стали и сплавов, 1994. 328 с.

4.Иверонова В. И., Ревкевич Г. П. Теория рассеяния рентгеновских лучей. М.: изд-во МГУ, 1978, 278 с.

5.Васильев Д. М. Дифракционные методы исследования структур. М.: Металлургия, 1977,

248 с.

6.Блохин М. А. Физика рентгеновских лучей. М.: Гостехтеориздат, 1953, 455 с.

7.Зоркальцев В. И. Метод наименьших квадратов. Новосибирск: Наука, 1995, 218 с.

8.Корн Г., Корн Т. Справочник по математике для научных работников и инженеров. М.:

Наука, 1968, 720 с.

9.Сергеев А. Г., Крохин В. В. Метрология. М.: Логос, 2000, 408 с.

дифракционных линий на параметры мультиплексной линии показала, что максимальное отклонение N не превышает 1,6 %, а $0 - 0,02%.